| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,綜合 |
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
菲希爾X射線測厚儀根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀
半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率
XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；
準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm
菲希爾X射線測厚儀基本濾片：固定或6種可切換
菲希爾X射線測厚儀固定樣品支架或手動XY載物臺
菲希爾X射線測厚儀攝像頭可輕松定位最佳測量位置
樣品高度最多17厘米;
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